Aparatura pomiarowa - stanowisko mikroskopów sił atomowych
Nowoczesne mikroskopy Nanosurf FlexAFM z kontrolerem C3000 (z lewej) oraz Nanosurf DriveAFM z kontrolerem CX (z prawej)
Ogólne, zbiorcze dane techniczne:
- maksymalny obszar skanowania (XY) – 95 µm x 95 µm,
- maksymalny zakres przemieszczenia (Z) – 18 µm,
- praca w powietrzu, gazach ochronnych (argon, azot) oraz w cieczy,
- pomiar w trybie statycznym, dynamicznym oraz spektroskopii sił,
- możliwość grzania próbki in-situ do 150°C.
Modelowanie i symulacje w infrastrukturze HPC
Dostęp do infrastruktury HPC realizowany jest w formie alokacji zasobów przyznawanych drogą grantową.
