Oferta dla gospodarki - mikroskopia sił atomowych
Ogólne możliwości pomiarowe mikroskopów Nanosurf FlexAFM oraz DriveAFM:
- obrazowanie topografii materiałów w skali mikro- i nanometrowej,
- analiza chropowatości powierzchni w skali mikroskopowej,
- pomiar sił tarcia i adhezji w skali nanometrowej,
- badanie jakościowe niejednorodności właściwości fizycznych, w tym mechanicznych, na powierzchni materiału (kontrast materiałowy),
- oznaczanie ilościowe lokalnych parametrów mechanicznych powierzchni (moduł sprężystości, twardość),
- mapowanie przewodności elektrycznej w skali mikro- i nanometrowej,
- obrazowanie domen magnetycznych.
Kontakt:
dr inż. Marek Weiss marek.weiss@put.poznan.pl +48 61 665 3227
dr inż. Łukasz Majchrzycki lukasz.majchrzycki@put.poznan.pl +48 61 665 3190
Oferta dla gospodarki - metody obliczeniowe
Możliwości modelowania i symulacji z użyciem metod MM i DFT w infrastrukturze HPC:
- modelowanie właściwości szerokiej gamy materiałów objętościowych i dwuwymiarowych (grafen, BN, MoS2, MoTe2, itp.),
- symulacje procesów adsorpcji, dyfuzji powierzchniowej i interkalacji,
- modelowanie wpływu modyfikacji strukturalnej materiałów na ich właściwości chemiczne i elektronowe,
- modelowanie reakcji chemicznych na powierzchniach materiałów,
- analiza wypływu otoczenia gazowego na strukturę i parametry elektryczne materiałów (stabilność chemiczna i detekcja gazów).
Kontakt:
dr inż. Maciej Szary maciej.szary@put.poznan.pl +48 61 665 3177
